產品中心您的位置：網站首頁 > 產品中心 > 光譜儀器設備 > 紫外可見分光光度計 > 754上海恒平紫外可見分光光度計754

上海恒平紫外可見分光光度計754

產品時間：2024-08-17

簡要描述：

上海恒平紫外可見分光光度計754
本產品適用于對紫外、可見光譜區(qū)域內物質的含量進行定量分析，可廣泛應用于工廠、學校、冶金、農業(yè)、食品、生化、環(huán)保、石油化工、醫(yī)療衛(wèi)生及各科研等單位實驗室。

產品介紹：

品牌	soptop/舜宇恒平

上海恒平紫外可見分光光度計754

生產廠家：H|舜宇恒平

帶寬：4nm

波長范圍：190-1100nm

參考價格：14000

754型紫外可見分光光度計

本產品適用于對紫外、可見光譜區(qū)域內物質的含量進行定量分析，可廣泛應用于工廠、學校、冶金、農業(yè)、食品、生化、環(huán)保、石油化工、醫(yī)療衛(wèi)生及各科研等單位實驗室。
自動波長，鍵盤輸入，波長設定和轉換更快速。一階過零、一階線性標準曲線測試，zui多可建立12個標樣點的標準曲線。標定曲線擬合，濃度直讀，可保存50條曲線參數。濃度因子設定和濃度設定的濃度直讀功能，可保存200條測試記錄。系統(tǒng)時鐘管理，暗電流校正，波長校正，USB數據接口,燈切換波長設置。

參數
單色器	C-T式單色器，1200線全息光柵
檢測器	硅光二極管
顯示器	128×64大屏幕液晶顯示
光源	鹵鎢燈20W/12V，氘燈，光源切換波長可設定
光譜帶寬	4nm
波長范圍	190~1100nm（步進間隔0.1nm）
波長zui大允許誤差	±1.0nm（開機自動校準）
波長重復性	≤0.5nm
穩(wěn)定性	暗電流＜0.2%T 、亮電流＜0.5%T
雜散光	≤0.3%T（在220、360nm處）
測定范圍	T：-1.0~200.0%T ，A：-0.5~3.000Abs，F：0~9999，C：0~9999
透射比zui大允許誤差	±0.5%T
透射比重復性	≤0.2%T
數據輸出	USB接口，LPT并行打印接口
電源	220V±10% 50Hz，70W
外形尺寸	456×375×220 mm
凈重	17.5kg